TIMA-X TESCAN integrált ásvány elemzéssel

by iscienceuser

A TIMA-X egy automata ásványtani rendszer mely gyors minőségi elemzést tud készíteni a következő mintákról: kőzetek, ércek, koncentrátumok, meddők, kilúgozási maradékok vagy kohó termékek.

A TIMA-X kombinálja  a BSE és EDX analízist annak érdekében, hogy azonosítsa az ásványokat, ásvány képeket készítsen, hogy meghatározza az elemek koncentrációját, eloszlását és az ásványok textúrájának jellemzőit, mint pl. szemcseméret, asszociáció, felszabadulási és kötési paraméterek. A TIMA-X szintén alkalmas arra, hogy megtalálja az olyan fényes területeket, melyet platinát, ezüstöt, aranyat, ritka földi ásványokat és egyéb érceket tartalmaznak.

A TIMA-X akár 4 EDAX SDD detektort (element silicon drift detektor) is tud használni ötvözve az új szoftverrel a teljesítmény és megbízhatóság szolgálatában. A TIMA-X új kialakítású detektorai érzékenyebbek a könnyű elemekre és fenntartanak egy állandó energia-eloszlást magas beütés-számok mellett is. A TIMA-X detektorai teljes mértékben kompatibilisek mindkét fő TIMA felhasználási móddal és az EDAX Kvantitatív EDX rendszerrel és lehetővé teszi a felhasználó számára, hogy kihasználja a TIMA-X teljes sebességét megtartott analitikai képességek mellett.

A TIMA-X számos egyedülálló funkcióval rendelkezik, mint pl. ásvány meghatározó modul vagy alacsony rendszámú elem detekciós modul, mely a TESCAN szabadalmaztatott „pixel analizáló algoritmus”-át használja.

A nagy áteresztőképességet igénylő felhasználásoknál hozzáilleszthető egy automata mintadagoló (AutoLoaderTM) – robotizált minta betöltő rendszer 24/7 felhasználásban, akár 100 epoxyba ágyazott minta vizsgálatához. Az AutoLoader megnöveli a hatékonyságot azáltal, hogy folyamatos mérést tesz lehetővé a nap 24 órájában heti 7 napon a minta manuális betöltése és a kamra-pumpa leállítása nélkül.

A Hardver főbb jellemzői:

  • TESCAN MIRA Shottky FE vagy VEGA elektronemissziós SEM
  • Akár 4 integrált EDX detektor a maximális teljesítményért
  • Legújabb generációs Peltier-hűtött SDD detektorok
    • új 30mm2 SDD CMOS vákumba zárt chip
    • Si3N4 kerámia ablak, masszív, pórusmentes és nagy áteresztőképességű
  • Kompatibilis a szabvákonyokon alapuló mennyiségi EDX meghatározással

  Egyedi Tulajdonságok:

  • Teljes hardver integrációja a Röntgen-sugár érzékelésnek és a nyaláb pásztázó rendszernek
  • AutoLoader™ 24/7 a folyamatos és felügyeletet nem igénylő működéshez nagyszámú minta esetén
  • Alacsonyabb detekciós határérték az érzékenység növeléséért
  • Direkt mennyiségi EDX analízise a Röntgen-spektrumoknak
  • Munkafolyamatok és eszközök segítik az ásványok klasszifikálását
  • Interaktív validálási és mérési eszközök

Szoftver főbb jellegzetességei:

  • Átfogó offline ásványi meghatározás, vizsgálat, képfeldolgozás, jelentés és értelmezés
  • Beépített, alkalmazás-orientált adatkezelő rendszer
  • Munkafüzet katalógusok a képek, grafikonok, táblázatok csoportos elmentéséhez
  • Automata backup funkció
  • Pontos SEM látótér-illesztés
  • Beépített interaktív, részletes, tartalmas Felhasználói Útmutató

Legfontosabb Támogatások:

  • Folyamatos fejlesztés
  • Ingyenes és rendszeres szoftver frissítés
  • Minden komponenst a TESCAN biztosít, nincs szükség külső támogatásra

Online Interaktív eszközök:

  • Beépített egyedi spektrális elemzési funkció az azonosításhoz és az összetétel megállapításához
  • Beépített egyedi EDX analízis a kémiai összetétel megállapításához közvetlenül a mérési eredményekből
  • Eszköz-készlet a könnyű bövíthetőségért: spektrumok, kompozíciók, formulák és spektrális szabványok adhatók hozzá a mérésekhez
  • Ásványi összetétel könyvtár, ami több mint 4700 ásványi összetételből keresi ki a megfelelőt és ZAF-korrigált mesterséges spektrumok létrehozása a képletekből és összetételi adatokból
  • A rendszer megtanítható új anyagok felismerésére és gyors átminősítésére a mérések alapján

Online funkciók és üzemmódok: Kis mennyiségben jelenlévő elemek detekciója egy szabadalmaztatott „Spectrum similarity zonation” algoritmus segítségével

  • Beépített EDX mennyiségi összetétel meghatározás szabványokból ill. közvetlenül a mérésekből
  • „Spot” módban való mérés mely integrálja a nagy felbontású BSE képeket az alacsonyabb felbontású Röntgen-sugárzás mérésekkel, lehetőséget adva a felhasználónak a mérési idő optimalizálására a ásványi összetétel pontos meghatározása mellett